Publicerad 12 juli 2026 kl 07:35
Ett kvalitets-labb ska verifiera djupet på laser-graverade markeringar på ett medicinskt-implantat. Kravet: 0,05 ± 0,01 mm djupt. För grunt = gravyren blir oläslig efter kort användning. För djupt = strukturell försvagning i implantatet.
Hur mäter man 50 mikrometers djup utan att skära upp arbetsstycket? En mikrometer med skarp spets når inte in i den 0,3 mm-breda graven. En dial-indikator får inte plats. En 3D-scanner ger användbart resultat men kostar 500 000+ kr. En koordinat-målemaskine kan mäta det, men tar 15-20 minuter per punkt.
Peak 2034-CIL-300-ZX djupmätningsmikroskop löser detta genom en genial optisk princip: OPTISK SNITTNING. Med 300x-förstoring är instrumentets skärpedjup bara några mikrometer. Genom att fokusera först på YTAN, sedan på BOTTEN, och läsa av differensen på Z-axeln, får operatören djupet med 1 μm-precision.
Optisk snittning: principen bakom
Vid låg förstoring (5-20x) har mikroskop stort skärpedjup — flera millimeter kan vara ”skarpt” samtidigt. Vid hög förstoring blir skärpedjupet dramatiskt mindre:
- 10x: skärpedjup ~1 mm.
- 50x: skärpedjup ~50 μm.
- 100x: skärpedjup ~10 μm.
- 300x: skärpedjup ~2-3 μm.
- 1000x: skärpedjup ~0,2 μm.
Vid 300x kan bara ETT smal-höjd-lager av objektet vara skarpt. Ovanför och nedanför är objekten OSKARPA. Detta är normalt en NACKDEL — man vill helst se ett 3D-objekt skarpt hela vägen. Men för DJUPMÄTNING är det en fördel: genom att röra optiken (eller objektet) längs Z-axeln och observera VILKEN HÖJD som är skarp, kan man bygga en Z-karta av objektets ytor.
2034-CIL-300-ZX-arbetsflödet:
- Placera arbetsstycket under mikroskopet.
- Fokusera mikroskopet på översta ytan runt graven. Notera Z-läget på fokuserings-ratten (skala med 1 μm-graderingar).
- Skruva ner mikroskopet för att fokusera på gravens BOTTEN. Notera nytt Z-läge.
- Differens mellan de två Z-lägena = gravens djup.
2034-CIL-300-ZX konstruktion
Detta instrument är en OPTISK MIKROMETER — inte ett standard-mikroskop med Z-manipulation. Konstruktionen är särskilt anpassad för Z-precision:
- Stabilisierat mikroskop-hölje: 2034-serien är designad för Z-riktnings-stabilitet. Standard-mikroskop har typiskt 5-10 μm Z-drift under drift; djupmätnings-versionen har under 1 μm drift.
- 30x objektiv: Ger 300x total-förstoring med 10x okular. Optiska kvaliteten är hög: ingen distorsion, kromatisk aberration korrigerad.
- Central belysning genom linsen: Ljuset kommer FRAM samma väg som ögat tittar. Detta ger bäst kontrast för att identifiera fokal-plan-position.
- Fin-fokuserings-mekanism: 1 μm-graderingar på fokuserings-ratten. Precisions-gänga med minimal backlash.
- Kan skjutas åt sidan för snabb-justering: Vid grov positionering går ratten fritt; vid fin-mätning används mikrometer-mekanismen.
Okular-mätskala
Utöver Z-mätning är instrumentet också en LATERAL mätmikroskop. Okularet har en integrerad glas-skala med:
- Minsta gradering: 1 μm.
- Skalens längd: 0,2 mm.
- Synfält: 0,48 mm.
Så operatören kan mäta både djup (via Z-fokus-differens) OCH lateral-dimensioner (via okular-skala) med samma instrument.
Fokus-riktning: kritisk detalj
Den enskilt viktigaste tekniken vid djupmätning: FOKUSERA ALLTID FRÅN SAMMA RIKTNING. Skruva ner för att fokusera på topp; skruva NER MER för att fokusera på botten. Aldrig skruva UPP mellan mätningarna.
Anledning: precisions-gängan har mikroskopisk BACKLASH — ett dödband på 1-3 μm mellan ratt-vridning och Z-rörelse. Om operatören vrider ner för topp, sedan upp och ner igen för botten, ackumuleras backlash-fel som direkt läggs till djupmätningen.
Rätt teknik:
- Grov-fokus i sido-skjut-läge.
- Sätt in fin-mekanismen. Fokusera på topp genom att SKRUVA NER från OSKARP position.
- Notera Z_top.
- Fortsätt skruva NER tills botten är skarp.
- Notera Z_bottom.
- Djup = Z_bottom − Z_top.
Aldrig backa upp mellan de två fokuserings-punkterna. Om du misstänker fel — börja om från grov-fokus-läget.
MST-stativet: essentiellt tillbehör
Instrumentet levereras med MST-stativ som ger säker positionering på:
- Cylindriska arbetsstycken (valsar, rör, axlar).
- Plana material (plåt, bräda, panel).
MST har tre kontaktpunkter — två vid basen (rullbara på cylindriska ytor) och en vid instrument-toppen. Denna trekant-uppställning gör att arbetsstycket kan roteras för mätning på olika sido-positioner utan att instrumentet behöver flyttas.
Extra tillbehör (korsbord 25×25 mm + rotationsbord) tillgängliga för XY-positionering av arbetsstycken.
Fem millimeter X-justering
Vid 300x-förstoring och 0,48 mm-synfält kan operatören se väldigt lite av arbetsstycket samtidigt. För att inspektera olika delar av ett större arbetsstycke behövs XY-manipulation.
2034-CIL-300-ZX har inbyggd 5 mm X-justering — instrument-huvudet kan glidas 5 mm i X-riktning utan att flytta stativ eller arbetsstycke. Detta räcker för att inspektera 5 mm-långa spårgravyrer eller flera markeringar bredvid varandra i en batch.
Vanliga tillämpningar
Laser-gravyr-djupmätning: Medicinsk implantat, verktygs-markering, säkerhetsstämplar.
Etsning- och plåt-processning: PCB-etsning-djup, kemisk-milling-djup.
Verktygsslitagemätning: Slitage-groper i skärverktyg, spån-cirkelringar i kolvringar.
Ytdefekt-analys: Djup av pittsvamp-groper, korrosions-djup, sprickor.
Kollektion-verifikation: Frimärks-tandnings-höjd, mynt-relief-djup.
Sigill-kontroll: Djup av stämpel-avtryck på metall, plast, papper.
Filatelistisk analys: Papper-tandnings-djup för säkerhets-verifikation.
Sub-yta-mätning på transparenta material: Mät djupet av inbäddade defekter i glas eller transparent plast.
Vad instrumentet INTE kan
- Digital-kamera-anslutning: Explicit angivet i produkt-beskrivningen — kombination med digitalkamera-mätfunktion är inte möjligt. Detta är ren-optisk instrument, avläsning genom okularet.
- Kontinuerlig 3D-scanning: Mätar bara utvalda punkter, inte hela ytor. För full topografi behövs 3D-mikroskop (typiskt 200 000+ kr).
- Djup över 5-10 mm: Fokuserings-mekanismens rörelse-räckvidd begränsad.
- Mycket små djup (under 0,5 μm): Ligger under fokal-plans-precision. Behövs interferometer.
Vad du får för pengarna
Peak 2034-CIL-300-ZX djupmätningsmikroskop, 300x total-förstoring (30x objektiv + 10x okular), 1 μm-graderad okular-skala med 0,2 mm skal-längd, 0,48 mm synfält, central belysning genom linsen, stabiliserat mikroskop-hölje för Z-riktnings-precision, fin-fokuserings-mekanism med 1 μm-graderingar och sidoskjutbar snabb-justering, 5 mm inbyggd X-justering, MST-stativ för positionering på cylindriska eller plana arbetsstycken. 54 878 kr.
Specialverktyg för verktygs-kvalitetslabb, medicin-teknik-tillverkning, PCB-processering och andra tillämpningar där djup av gravyrer, etsningar, markeringar eller ytdefekter måste mätas med mikrometer-precision utan destruktiv analys. För dagliga djupmätnings-behov är denna optiska mikrometer en betydande investering som ger snabbare och mer flexibel mätning än alternativa metoder (koordinat-målemaskine, 3D-scanning). För enstaka djupmätningar räcker enklare instrument.
Läs mer: Peak 2034-CIL-300-ZX djupmätningsmikroskop i butiken →
