Publisert 12. juli 2026 kl 07:35
En kvalitetslab skal verifisere dybden på lasergraverte markeringer på et medisinsk implantat. Kravet: 0,05 ± 0,01 mm dypt. For grunt = graveringen blir uleselig etter kort tids bruk. For dypt = strukturell svekkelse i implantatet.
Hvordan måler man 50 mikrometers dybde uten å skjære opp arbeidsstykket? Et mikrometer med spiss når ikke ned i den 0,3 mm brede fordypningen. Et måleur får ikke plass. En 3D-skanner gir et brukbart resultat, men koster over 500 000 kr. En koordinatmålemaskin kan måle det, men bruker 15–20 minutter per punkt.
Peak 2034-CIL-300-ZX dybdemålemikroskop løser dette gjennom et genialt optisk prinsipp: OPTISK SNITTING. Med 300x forstørrelse er instrumentets dybdeskarphet bare noen få mikrometer. Ved å fokusere først på OVERFLATEN, deretter på BUNNEN, og så lese av differansen på Z-aksen, får operatøren dybden med 1 μm presisjon.
Optisk snitting: prinsippet bak
Ved lav forstørrelse (5–20x) har mikroskop stor dybdeskarphet — flere millimeter kan være ”skarpe” samtidig. Ved høy forstørrelse blir dybdeskarpheten dramatisk mindre:
- 10x: dybdeskarphet ~1 mm.
- 50x: dybdeskarphet ~50 μm.
- 100x: dybdeskarphet ~10 μm.
- 300x: dybdeskarphet ~2–3 μm.
- 1000x: dybdeskarphet ~0,2 μm.
Ved 300x kan bare ETT tynt høydelag av objektet være skarpt. Over og under er objektene USKARPE. Dette er normalt en ULEMPER — man vil helst se et 3D-objekt skarpt hele veien. Men for DYBDEMÅLING er det en fordel: ved å bevege optikken (eller objektet) langs Z-aksen og observere HVILKEN HØYDE som er skarp, kan man bygge et Z-kart over objektets overflater.
Arbeidsflyten med 2034-CIL-300-ZX:
- Plasser arbeidsstykket under mikroskopet.
- Fokuser mikroskopet på den øverste overflaten rundt graveringen. Noter Z-posisjonen på fokuseringshjulet (skala med 1 μm-inndeling).
- Skru mikroskopet ned for å fokusere på graveringens BUNN. Noter ny Z-posisjon.
- Differansen mellom de to Z-posisjonene = dybden på graveringen.
2034-CIL-300-ZX konstruksjon
Dette instrumentet er et OPTISK MIKROMETER — ikke et standardmikroskop med Z-manipulasjon. Konstruksjonen er spesielt tilpasset for Z-presisjon:
- Stabilisert mikroskophus: 2034-serien er designet for stabilitet i Z-retningen. Standardmikroskoper har typisk 5–10 μm Z-drift under drift; dybdemålingsversjonen har under 1 μm drift.
- 30x objektiv: Gir 300x totalforstørrelse med 10x okular. Den optiske kvaliteten er høy: ingen distorsjon, kromatisk aberrasjon er korrigert.
- Sentrert belysning gjennom linsen: Lyset faller inn SAMME vei som øyet ser. Dette gir best kontrast for å identifisere fokalplanets posisjon.
- Finjusteringsmekanisme for fokus: 1 μm-inndelinger på fokuseringshjulet. Presisjonsgjenge med minimal dødgang (backlash).
- Kan skyves til siden for hurtigjustering: Ved grovposisjonering går hjulet fritt; ved finmåling brukes mikrometermekanismen.
Okular-måleskala
I tillegg til Z-måling er instrumentet også et LATERALT målemikroskop. Okularet har en integrert glass-skala med:
- Minste inndeling: 1 μm.
- Skalaens lengde: 0,2 mm.
- Synsfelt: 0,48 mm.
Dermed kan operatøren måle både dybde (via Z-fokusdifferanse) OG laterale dimensjoner (via okularskalaen) med samme instrument.
Fokusretning: en kritisk detalj
Den desidert viktigste teknikken ved dybdemåling: FOKUSER ALLTID FRA SAMME RETNING. Skru ned for å fokusere på toppen; skru VIDERE NED for å fokusere på bunnen. Skru aldri OPP mellom målingene.
Årsak: presisjonsgjengen har mikroskopisk DØDGANG (backlash) — et dødgangsområde på 1–3 μm mellom dreiing på hjulet og Z-bevegelse. Hvis operatøren vrir ned for toppen, deretter opp og ned igjen for bunnen, akkumuleres dødgangsfeil som legges direkte til dybdemålingen.
Riktig teknikk:
- Grovfokuser i sideskyve-modus.
- Koble inn finmekanismen. Fokuser på toppen ved å SKRU NED fra en USKARP posisjon.
- Noter Z_top.
- Fortsett å skru NED til bunnen er skarp.
- Noter Z_bottom.
- Dybde = Z_bottom − Z_top.
Gå aldri bakover/opp mellom de to fokuseringspunktene. Hvis du mistenker feil — start på nytt fra grovfokusposisjonen.
MST-stativet: essensielt tilbehør
Instrumentet leveres med MST-stativ som sikrer stabil posisjonering på:
- Sylindriske arbeidsstykker (valser, rør, akslinger).
- Flatt materiale (plater, bord, paneler).
MST har tre kontaktpunkter — to ved basen (rullbare på sylindriske overflater) og ett på instrumenttoppen. Denne trepunktskonstruksjonen gjør at arbeidsstykket kan roteres for måling på ulike sideposisjoner uten at instrumentet må flyttes.
Ekstra tilbehør (kryssbord 25×25 mm + rotasjonsbord) er tilgjengelig for XY-posisjonering av arbeidsstykker.
Fem millimeter X-justering
Ved 300x forstørrelse og 0,48 mm synsfelt ser operatøren svært lite av arbeidsstykket om gangen. For å inspisere ulike deler av et større arbeidsstykke er det nødvendig med XY-justering.
2034-CIL-300-ZX har innebygd 5 mm X-justering — instrumenthodet kan forskyves 5 mm i X-retning uten å flytte stativ eller arbeidsstykke. Dette er tilstrekkelig for å inspisere 5 mm lange sporgraveringer eller flere markeringer ved siden av hverandre i en serie.
Vanlige bruksområder
Dybdemåling av lasergravering: Medisinske implantater, verktøymerking, sikkerhetsstempler.
Etse- og tynnplateprosesser: PCB-etsedybde, dybde ved kjemisk fresing.
Måling av verktøyslitasje: Slitasjegroper i skjæreverktøy, sporslitasje i stempelringer.
Analyse av overflatedefekter: Dybde på tæreporer (pitting), korrosjonsdybde, sprekker.
Verifisering for samleobjekter: Takkingshøyde på frimerker, relieffdybde på mynter.
Seglkontroll: Dybde på stempelavtrykk på metall, plast, papir.
Filatelistisk analyse: Papirtakkingsdybde for sikkerhetsverifisering.
Måling under overflaten på transparente materialer: Måling av dybden på innkapslede defekter i glass eller transparent plast.
Hva instrumentet IKKE kan
- Tilkobling av digitalkamera: Eksplisitt oppgitt i produktbeskrivelsen — kombinasjon med digitalkamera for målefunksjon er ikke mulig. Dette er et rent optisk instrument med avlesning gjennom okularet.
- Kontinuerlig 3D-skanning: Måler kun utvalgte punkter, ikke hele overflater. For full topografi kreves et 3D-mikroskop (typisk 200 000+ kr).
- Dybder over 5–10 mm: Fokuseringsmekanismens bevegelsesområde er begrenset.
- Svært små dybder (under 0,5 μm): Ligger under fokalplanets presisjon. Da kreves et interferometer.
Hva du får for pengene
Peak 2034-CIL-300-ZX dybdemålemikroskop, 300x totalforstørrelse (30x objektiv + 10x okular), 1 μm-gradert okularskala med 0,2 mm skalalengde, 0,48 mm synsfelt, sentrert belysning gjennom linsen, stabilisert mikroskophus for presisjon i Z-retningen, finjusteringsmekanisme for fokus med 1 μm-inndeling og sideskyvbar hurtigjustering, 5 mm innebygd X-justering, MST-stativ for posisjonering på sylindriske eller flate arbeidsstykker. 54 878 kr.
Spesialverktøy for kvalitetslaboratorier for verktøy, produksjon av medisinsk utstyr, PCB-prosessering og andre applikasjoner der dybden på graveringer, etsinger, markeringer eller overflatedefekter må måles med mikrometerpresisjon uten destruktiv analyse. For daglige dybdemålingsbehov er dette optiske mikrometeret en betydelig investering som gir raskere og mer fleksibel måling enn alternative metoder (koordinatmålemaskin, 3D-skanning). For sporadiske dybdemålinger holder det med enklere instrumenter.
Les mer: Peak 2034-CIL-300-ZX dybdemålemikroskop i butikken →
